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硅片親水性測(cè)量?jī)x的儀器$n本公司儀器采用現(xiàn)代化工藝制造，儀器采用高速CCD數(shù)字?jǐn)z像機(jī)，配倍高分辨率變焦式顯微鏡和高亮度LED背景光源系統(tǒng)，搭配三維樣品臺(tái)，可進(jìn)行工作臺(tái)上下、左右、前后等方向移動(dòng)。實(shí)現(xiàn)微量進(jìn)樣及上下、左右精密移動(dòng)。同時(shí)還設(shè)計(jì)了伸縮桿結(jié)構(gòu)工作臺(tái)，能適應(yīng)在不同用戶材料厚度加大的場(chǎng)合。儀器框架可以根據(jù)式樣的大小適量調(diào)節(jié)，擴(kuò)大了儀器的使用范圍。

光學(xué)透過(guò)率LS108H光學(xué)透過(guò)率測(cè)量?jī)x是一款臺(tái)式光學(xué)透過(guò)率儀，主要用于有機(jī)材料、玻璃、PC材料透光率測(cè)試,測(cè)試孔徑3mm，適合小尺寸材料的透光率、紅外線和紫外線透過(guò)率測(cè)量，平面臺(tái)式設(shè)計(jì)，方便放置測(cè)試樣品,即放即測(cè)，測(cè)試快速數(shù)據(jù)精準(zhǔn)。

透過(guò)率測(cè)試儀TMS是一套全波長(zhǎng)的0度角透過(guò)率檢測(cè)儀，能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類平面光學(xué)元件的透光率，可用于實(shí)時(shí)在線檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢。適用于棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽(yáng)膜、濾光片等平面光學(xué)元件的檢測(cè)。

全波長(zhǎng)透過(guò)率譜分析儀Sphere3000是一套全波長(zhǎng)顯微球面光學(xué)元件光譜分析儀，能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類球面/非球面器件的相對(duì)/反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測(cè)量。還可進(jìn)行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測(cè)量。

光學(xué)鍍膜橢偏儀ME-L 是一款科研級(jí)全自動(dòng)高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了頤光科研團(tuán)隊(duì)在橢偏技術(shù)多年的投入，其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術(shù)，包括消色差補(bǔ)償器、雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器同步控制、穆勒矩陣數(shù)據(jù)分析等?？蓱?yīng)用于各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學(xué)納米光柵常數(shù)以及一維/二維納米光柵材料結(jié)構(gòu)的表征分析。

可同時(shí)進(jìn)行 SCI 和 SCE 測(cè)量，并通過(guò)液晶面板顯示 SCI /SCE 數(shù)據(jù)；

技術(shù)參數(shù)符合 GB2410-2008 ASTM D1003-61（1997） JIS K7105-81 等測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

激光干涉儀手機(jī)面板攝像孔透射波前檢測(cè)